航天測控公司針對數字電路自動測試系統的開發需求,數字電路中較為復雜的時序電路測試為側重點,將含有CPU、FPGA等的數字電路作為測試對象,結合目前常用的時序電路仿真方法,成功研制一套基于PXI總線技術的便攜式自動測試系統(HTEDS8300便攜式PXI總線數字電路板測試診斷系統)。該系統具備性價比高、體積小、易攜帶、TPS開發難度小等特點,適用于軍用和民用領域的半導體、航天/國防、通訊才消費電子產品的設計驗證、測試和維修。下面具體介紹HTEDS8300便攜式PXI總線數字電路板測試診斷系統的軟硬件組成和特點,并應用該系統實現對含有CPU的數字電路板的自動測試。
PXI(PCI Extensions for Instrumentation)是一種用于測量和自動化系統領域的基于PC的模塊化儀器平臺。它結合了PCI總線的電器性能和CompactPCI的堅固、模塊化、歐卡機械特性,并且增加了適合儀器使用的觸發總線、局部總線等硬件特性,使其擴展成為一種用于測量和自動化系統的高性能、低成本的開發平臺。HTEDS8300便攜式PXI總線數字電路板測試診斷系統采用PXI機箱內嵌控制器,結構輕便小巧,易于攜帶。
本系統采用功能測試法,直接利用電路的輸入和輸出接口作為激勵點和響應點,通過與預期響應比較,判定被測板是否工作正常,并將故障定位到最小可更換單元。對于電路板中的內部節點,可以通過夾具、探筆等設備連接。
系統配置了4塊數字I/O模塊,用于數字電路數字信號的發送和采集??紤]到一般的CPU電路板至少含有32位地址線和32位數據線以及其他的控制線,系統配置了104個數字I/O通道,擁有50MHz的最大數據速率,最大可擴展到352個通道。在測試含CPU、FPGA的數字電路板時,測試端口需要根據時序改變方向,測試系統具有實時動態輸入輸出方向的測試能力,并且可以對采集到的響應數據進行實時硬件比較。
目前大部分數字電路板都帶有邊界掃描端口的芯片,為了適應這類電路板的測試需求,系統提供了遵循IEEE1149.1的邊界掃描測試通道。
另外,系統中配置了數字示波器模塊,這主要是考慮到在數字電路測試中,尤其是高速數字電路的測試中都需要使用示波器來觀察動態波形,測量波形上升/下降時間等特征值,從而為故障診斷提供依據。測試系統還配置了6.5位數字多用表,能夠測量電壓、電流、電阻、電感、電容和阻抗。這樣,測試時系統中不同資源如數字I/O和示波器能夠同步工作,自動測試方法更加靈活多樣,能夠滿足用戶對復雜數字電路的測試需求。
系統配有外置的電路板測試夾具,該夾具可自由旋轉180度,方便測試人員在分析和測試電路板時,能夠把電路板固定住,并且翻轉電路板來測量電路板的兩面。
該系統適用于各類型數字電路板的測試與診斷,并將故障隔離定位到發生故障的最小可更換單元(元器件),測試范圍包括:中、小規模集成數字電路PCB;含中、小規模可編程邏輯系列芯片;含具有邊界掃描接口的大規模集成電路、CPU芯片、DSP信號處理電路的PCB、以及其它種類的數字電路PCB。
系統軟件主要由測試診斷程序(TPS)開發、測試診斷程序執行、綜合查詢、信息共享、系統維護、系統安全保障、在線幫助7大部分組成。能夠實現多種類型PCB的測試診斷程序的開發與執行,系統通過測試得到的信息,經過測試診斷程序的分析判斷,完成對PCB的故障檢測與定位。
為了使電路板測試與維修人員打破通過編寫代碼程序完成電路板測試診斷的傳統,降低開發人員編輯TPS的技術難度,軟件平臺采用了圖形化TPS編輯環境,提供一個通用開發環境,能夠完成不同類型的電路TPS的開發、調試與運行,系統軟件能夠利用數字電路仿真軟件輸出的標準IEEE1445格式數據對電路板進行測試,提高了TPS開發人員的工作效率和開發質量。
軟件平臺提供可視化界面向導功能,利用平臺提供的各種流程模塊配合相應的功能組件,用戶只需輸入專家知識及必要的其它信息即可建立一個具體的診斷程序。開發人員不需要學習和進行復雜的源程序編碼就可以完成TPS開發,避免了以往一個電路模塊對應一套診斷軟件的弊端,具有很強的通用性和可擴展性。
目前大多數數字電路板測試系統基本上都是針對不帶CPU、FPGA的數字電路板進行測試和故障診斷,這類電路板所具有的共同點就是響應與激勵一一對應,即由程序控制自動測試設備向電路板輸入信號,當電路板的輸入確定時,電路板產生相應的輸出信號,根據這種固定的輸入輸出關系很容易判斷電路板的故障,并判斷故障節點。但是對于帶微處理器件的電路板,不能簡單的使用這種測試方法在ATE設備上進行故障檢測。由于微處理器采用三總線或者編程端口對電路進行控制,因此這類電路板的輸入輸出的時序并不是固定的,也就導致每次輸入激勵和輸出響應不一定是一一對應的。針對這個問題,判斷故障時必須對總線信號或端口信號進行可靠控制,以保證每次均是同步測試,也就是要保證每次輸入激勵信號在時序上是一致的。這樣再和預期響應信號比較時才不會因為時序差別而錯誤判斷故障。
微處理器的控制信號實際上是數字信號,而測試系統能提供104路以上的動態I/O信號,因此可以采用測試系統的I/O信號模擬微處理器各管腳信號,驅動電路中的其他功能模塊,從而達到模擬微處理器件時序,完成同步測試的目的,并有效檢測出其他功能模塊的故障。如果其他功能模塊均正常而電路板不能工作,則可將故障定位到微處理器上。
以某CPU裝備板為例,驗證系統的I/O測試能力。該電路板CPU通過串并行總線控制FLASH、溫度傳感器和驅動電機。
電路原理框圖
平臺可以選擇I/O信號電平電壓、每周期改變I/O信號方向,在軟件提供的圖形化開發環境編輯測試激勵及響應信號,并采集響應信號,以交互式的方式對電路板進行測試。該系統能夠準確定位電路板故障,有效提高了測試效率。