圖1. 使用DEDIX ASIC進(jìn)行X射線檢測(cè)
"我們的虛擬儀器構(gòu)建在LabVIEW所編寫的專用軟件的基礎(chǔ)上,因此用戶可以設(shè)置適當(dāng)?shù)臏y(cè)試配置、ASIC參數(shù),并讀取數(shù)據(jù),然后在圖形化用戶界面上顯示分析后的結(jié)果。正是由于基于NI產(chǎn)品構(gòu)建的這個(gè)系統(tǒng)方案,使得我們可以節(jié)省一年的測(cè)試時(shí)間。"
– Piotr Maj, AGH University of Science and Technology
The Challenge:
設(shè)計(jì)和測(cè)試針對(duì)物理學(xué)和生物學(xué)應(yīng)用中的專用集成電路(application-specific integrated circuits, ASIC)。
The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和PXI硬件創(chuàng)建虛擬儀器,以盡可能快地測(cè)試ASIC