摘要:存儲(chǔ)芯片是測(cè)量?jī)x器的重要組成部分,如果水中兵器裝備中選用的存儲(chǔ)芯片如NAND FLASH存儲(chǔ)芯片因加工工藝而存在壞塊,那么壞塊就可以導(dǎo)致數(shù)據(jù)記錄的不連續(xù)性。本文對(duì)NAND FLASH存儲(chǔ)芯片的特性進(jìn)行了分析,定義了壞塊類型,提出了一種通過壞塊識(shí)別處理壞塊的方法,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)FLASH的可靠存儲(chǔ),實(shí)際工程應(yīng)用表明具有較高的存儲(chǔ)
可靠性。
關(guān)鍵詞:NAND FLASH芯片;存儲(chǔ);壞塊
在線預(yù)覽:一種存儲(chǔ)芯片的壞塊識(shí)別與管理分析