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資訊頻道作為PXI行業(yè)年度盛會(huì)的PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇（PXI Technology and Application Conference，簡(jiǎn)稱PXI TAC）于6月16日在上海舉辦。泛華測(cè)控作為在國(guó)內(nèi)率先應(yīng)用PXI技術(shù)為客戶提供測(cè)試測(cè)量解決方案的先鋒企業(yè)，此次攜基于PXI總線的便攜式振動(dòng)分析儀（便攜式測(cè)試平臺(tái) PS TU-9106）及電路板標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)參加了活動(dòng)。同時(shí)，還為現(xiàn)場(chǎng)客戶提供了關(guān)于PXI總線在裝備保障領(lǐng)域應(yīng)用情況的技術(shù)講座。
控出席PXI TAC 2016 基于邊界掃描技術(shù)的電路板測(cè)試臺(tái)引關(guān)注2551467015181694963.png "泛華測(cè)控出席PXI TAC 2016 基于邊界掃描技術(shù)的電路板測(cè)試臺(tái)引關(guān)注2551467015181694963.png")
活動(dòng)現(xiàn)場(chǎng)，泛華自主研發(fā)的電路板標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)引起了參會(huì)者的圍觀，場(chǎng)面火爆。該測(cè)試臺(tái)是泛華測(cè)控與德國(guó)GOEPEL公司開(kāi)展前沿技術(shù)合作，率先將邊界掃描技術(shù)應(yīng)用于電路板測(cè)試實(shí)際項(xiàng)目中的典范。系統(tǒng)集成示波器、波形發(fā)生器、數(shù)字萬(wàn)用表、可編程數(shù)字I/O、程控電源、多路復(fù)用器、矩陣開(kāi)關(guān)、CAN總線、RS485/RS232等電路板測(cè)試常用儀器和通訊總線，同時(shí)用戶可根據(jù)需求選配邊界掃描功能，可最大限度地滿足用戶對(duì)各種待測(cè)電路的模擬/數(shù)字信號(hào)、靜態(tài)/動(dòng)態(tài)信號(hào)的采集與測(cè)試，并通過(guò)軟件進(jìn)行定性或定量的分析。
控出席PXI TAC 2016 基于邊界掃描技術(shù)的電路板測(cè)試臺(tái)引關(guān)注5011467015189412244.png "泛華測(cè)控出席PXI TAC 2016 基于邊界掃描技術(shù)的電路板測(cè)試臺(tái)引關(guān)注5011467015189412244.png")
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支持邊界掃描技術(shù)的電路板標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試臺(tái)受到了客戶的廣泛關(guān)注
針對(duì)電路板測(cè)試為何需要邊界掃描的提問(wèn)，泛華測(cè)控的工程師解釋道：“邊界掃描技術(shù)具有可對(duì)被測(cè)板進(jìn)行無(wú)損傷的測(cè)試；可自動(dòng)生成測(cè)試向量，無(wú)需人工寫(xiě)測(cè)試邏輯；可進(jìn)行測(cè)試覆蓋率分析；可對(duì)邊掃期間周?chē)拇鎯?chǔ)器、總線芯片等進(jìn)行測(cè)試；對(duì)FPGA、CPLD、FLASH進(jìn)行在線編程。而這些技術(shù)的優(yōu)越性是使用傳統(tǒng)測(cè)試方式不能或不易實(shí)現(xiàn)的。”
同時(shí)，泛華測(cè)控在現(xiàn)場(chǎng)展示的基于PXI總線的便攜式測(cè)試平臺(tái)PS TU-9106，可通過(guò)支持不同測(cè)量功能的通用PXI模塊，變身為不同功能的儀器。平臺(tái)集成主控單元、信號(hào)接入單元、觸摸屏、鍵鼠、電源等模塊，具有便攜、堅(jiān)固、可靠等特征，確保外場(chǎng)作業(yè)的易用性。
控出席PXI TAC 2016 基于邊界掃描技術(shù)的電路板測(cè)試臺(tái)引關(guān)注8201467015202723321.png "泛華測(cè)控出席PXI TAC 2016 基于邊界掃描技術(shù)的電路板測(cè)試臺(tái)引關(guān)注8201467015202723321.png")
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媒體團(tuán)參觀泛華測(cè)控展品
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北京市公安局海淀分局備案號(hào)：11010802023656號(hào)