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摘要

無線技術(shù)在過去的20年里快速從3G發(fā)展到4G，現(xiàn)在已到了5G的時代。有一個技術(shù)問題一直貫穿這一發(fā)展的過程，即高頻器件的自動校準(zhǔn)測試。

RF ATE和現(xiàn)場測試系統(tǒng)面臨的最困難的挑戰(zhàn)是校準(zhǔn)、可重復(fù)性和測試結(jié)果的關(guān)聯(lián)度。未來的無線技術(shù)的發(fā)展需要5G NR器件。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC利用非并行片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)，使用戶可在RF ATE和/或現(xiàn)場測試環(huán)境中使用自動校準(zhǔn)和測量技術(shù)。

Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190（采用交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)的12位和10位四通道ADC）使RF ATE和現(xiàn)場測試設(shè)備的開發(fā)可以集中于單通道和多端口5G NR設(shè)備的自動校準(zhǔn)測試和測量。 

兩代之間的問題 

5G是通信行業(yè)的第五代蜂窩網(wǎng)絡(luò)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，從2019年開始在世界范圍應(yīng)用。5G是現(xiàn)在大多數(shù)手機(jī)使用的4G網(wǎng)絡(luò)的繼任者，帶寬更大，下載速度高達(dá)10 Gbit/s。 由于帶寬的增加，現(xiàn)在的4G 手機(jī)將無法使用新的網(wǎng)絡(luò)，這種新的網(wǎng)絡(luò)需要支持5G的無線設(shè)備。另一方面，5G也需要兼容諸如帶寬等所有的4G網(wǎng)絡(luò)需求。因此，為了保證廣泛的服務(wù)，5G網(wǎng)絡(luò)將工作在三種頻段：低頻段、中頻段和高頻段。

低頻段5G(也稱作次1GHz)使用和4G(600-700MHz)相似的頻率范圍，可支持稍高于4G的下載速度(30-250Mbit/s)。 

中頻段5G(也稱作次6GHz)的頻率范圍是2.5-3.7GHz(下載速度是100-900Mbit/s)。這一服務(wù)將在2020年覆蓋大多數(shù)的大城市區(qū)域。 

高頻段5G(也稱作毫米波)使用26、28或39GHz的頻率。上述的5G頻段都在2020年經(jīng)過測試，而新的中頻段(次6GHz)預(yù)計在將來的幾個月或幾年內(nèi)實(shí)現(xiàn)（當(dāng)前有超過50個5G NR中頻段在世界范圍內(nèi)使用）。

2018年，一個5G的行業(yè)聯(lián)合標(biāo)準(zhǔn)（第三代合作工程（3GPP)) 定義了使用5G NR(5G新無線電）軟件的系統(tǒng)。5G最終將支持大約每平方千米1M個設(shè)備，而現(xiàn)在的4G支持大約每平方千米100K個器件。當(dāng)然，5G無線設(shè)備將兼容4G LTE功能，因?yàn)樾碌?G網(wǎng)絡(luò)將使用現(xiàn)有的4G網(wǎng)絡(luò)初步實(shí)現(xiàn)手機(jī)的連接。關(guān)鍵是，未來的5G器件不僅需滿足不斷發(fā)展的5G性能需求，還需兼容之前的2G/3G/4G/5G（GSM/EDGE/CDMA/UMTS/WCDMA/LTE-A /TD-SCDMA/TD-LTE等）。

因此，未來的5G NR ATE系統(tǒng)需使用一種可靠的、可重復(fù)的方式在較寬的頻率范圍測試器件的性能，這種方式需支持自動校準(zhǔn)和測量以確保結(jié)果相互關(guān)聯(lián)并減少測試誤差。

誤差帶來的麻煩

參數(shù)化RF ATE測量環(huán)境中DUT（測試的器件）外部的不確定度/ 誤差需要采用能準(zhǔn)確并可靠測量DUT/產(chǎn)品性能的測量方法以提高測量的精確度。測試并量化測量的不確定度是獲得理想測量結(jié)果的關(guān)鍵。

一般來說，測量結(jié)果的準(zhǔn)確度通常是值得懷疑的，因?yàn)樗械臏y量都受物理和電氣環(huán)境的影響，并受到使用的源/測試器件/儀器的限制。因而，測量的值永遠(yuǎn)不會等于測試的DUT/性能的真實(shí)值。測量值和真實(shí)性能值之間的差別叫做誤差。依據(jù)誤差的來源（DUT外部），這些誤差可被大致地分為隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差。隨機(jī)誤差是隨機(jī)的，它們來源于測試設(shè)備和測試環(huán)境的不可預(yù)測的時間或空間變化。通常難以追蹤和量化隨機(jī)誤差如何影響DUT 的測量結(jié)果。隨機(jī)誤差主要由RF ATE環(huán)境的變化引起，如溫度變化、連接變化、儀器噪聲和失真，也包含連接和線纜的誤差。

系統(tǒng)誤差是可重復(fù)的誤差，一般可以被修正，但無法全部消除。系統(tǒng)誤差僅可被減小到某個程度。校準(zhǔn)的概念通常指估算RFATE測試環(huán)境中的系統(tǒng)誤差并修正。為了成功修正系統(tǒng)誤差，通常需要校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)或參考的器件。這個標(biāo)準(zhǔn)或參考器件應(yīng)該能以較高的精確度代表或復(fù)現(xiàn)某個測量流程。校準(zhǔn)流程一般是用測量系統(tǒng)測量/測試這個標(biāo)準(zhǔn)/參考器件，并將測量結(jié)果存儲為原始數(shù)據(jù)。通過比較這個標(biāo)準(zhǔn)/參考器件的原始測量數(shù)據(jù)和已知的數(shù)值，可計算出系統(tǒng)誤差。這個誤差的值隨后被用于修正測量結(jié) 果。不幸的是，對于5G NR ATE測試設(shè)備，包括DIB(設(shè)備接口板）、探針卡、線纜和連接等，標(biāo)準(zhǔn)/參考器件有各種各樣的高頻率和測試條件，這使得問題變得非常復(fù)雜。另一種校準(zhǔn)的方法是定義一個參考平面。這個參考平面是通過估算并修正測試系統(tǒng)環(huán)境的系統(tǒng)誤差得出。不幸的是，隨機(jī)誤差無法通過參考平面環(huán)境修正。當(dāng)前RF/5G NR ATE和現(xiàn)場測試系統(tǒng)環(huán)境迫切需要一種使用自動/校準(zhǔn)和測量技術(shù)為每個DUT創(chuàng)建一個參考平面的解決方案。

獨(dú)立器件的自動校準(zhǔn)和測試測量

為RF ATE環(huán)境中的每個DIB(設(shè)備接口板)/DUT創(chuàng)建一個參考平面需要定義一個校準(zhǔn)流程（圖1a和1b)。 校準(zhǔn)通常使用一套標(biāo)準(zhǔn)。理想狀態(tài)下，這個標(biāo)準(zhǔn)采用一個“金參考器件”DIB/DUT， 與通常的DIB/DUT測量(步驟2)相比，其累計誤差只有不到一半或四分之一（步驟1）。如果可得出這一誤差（ 步驟1），則可認(rèn)為標(biāo)準(zhǔn)的累計測量方法足以滿足實(shí)際的DIB/DUT測試（步驟2）。一直維持RF ATE環(huán)境中不同的頻率、噪聲和電壓條件下最小的“金標(biāo)準(zhǔn)/參考器件”測量誤差是一件非常困難、耗時和昂貴的工作。

圖1a 簡化框圖：使用金標(biāo)準(zhǔn)參考的手動參考平面校準(zhǔn)

圖1b 簡化框圖：DIB/DUT的自動測量 

當(dāng)然，器件的互聯(lián)和變化也會顯著影響創(chuàng)建標(biāo)準(zhǔn)的參考平面和DIB/DUT的校準(zhǔn)（包括多設(shè)備接口板（DIB）異常、DIB/DUT接觸/器件變化、線纜/連接器阻抗、源/測量儀器變化等）。考慮到上述的內(nèi)容，5G NR設(shè)備的校準(zhǔn)流程需使用一套標(biāo)準(zhǔn)的手動的測試方法創(chuàng)建參考平面（引入大的隨機(jī)誤差），然后采用自動測試方法去除系統(tǒng)誤差源。

圖2表示一個通用的6腳（表面貼裝封裝）的5G NR低噪聲放大器(LNA)產(chǎn)品/DUT(不連接外圍器件）。這個LNA的測試樣本需在RF ATE環(huán)境下測試，這個環(huán)境需要在測試之前校準(zhǔn)，以確定參考平面。典型的用于LNA的RF ATE測試包括： 

• 工作頻率范圍（有超過50個5G NR網(wǎng)絡(luò)頻帶）

• 增益/插入損耗

• 頻率范圍的增益平坦度

• 噪聲圖

• 輸入/輸出回波損耗

• 輸入IP3

• 輸出IP3

  

圖2 通用6腳5G NR LNA DUT（不連接外圍器件）

圖3 通用6腳5G NR LNA DUT/DIB（連接外圍器件）

因此，未來5G NR ATE系統(tǒng)和現(xiàn)場電信測試設(shè)備需要具有在寬頻率范圍和不同測試條件下可靠、可重復(fù)、相關(guān)聯(lián)（考慮到前面所述的誤差）測試的能力。它也需要一種自動校準(zhǔn)技術(shù)，不依靠手動校準(zhǔn)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)建參考平面。圖4表示一個簡化/概念性的自動校準(zhǔn)5G NR RF ATE測量系統(tǒng)的框圖，可用于任何DIB/DUT，無論是單端口還是多端口，是否有外圍器件。

除了測試這種LNA設(shè)備，實(shí)際的RF ATE環(huán)境還需擁有測試其它類型的5G NR類型設(shè)備（耦合器、衰減器、濾波器、VGA等）的能力。因此，還需考慮多端口測試的情況。

圖3表示相同的通用6腳（表面貼裝封裝）5G NR低噪聲放大器(LNA)產(chǎn)品/DUT，但是帶有正常工作所需的外部器件。這些器件盡可能近地安裝在DIB上。實(shí)際上，由于高頻激勵，圖3的測量和校準(zhǔn)比圖2復(fù)雜得多。DUT和DIB之間的異常包括：

• 衰減器不匹配和損耗誤差（需要阻抗匹配和改變DUT輸入/輸出電平）

• 輸入和輸出之間的電感性能變化

• 控制線和門驅(qū)動之間的相互作用的變化

• 接地環(huán)路

• 線纜/連接阻抗

• 每個測試模塊的測試系統(tǒng)連接的阻抗變化 

如前所述，隨著在DUT中增加了信號鏈中的多個器件，校準(zhǔn)的問題也會更復(fù)雜。隨著變量的增加，校準(zhǔn)和自動測試誤差呈指數(shù)級增加。

圖4 概念框圖：自動校準(zhǔn)5G NR RF ATE測量/測試系統(tǒng)

為了保證RF ATE系統(tǒng)準(zhǔn)確、可靠性、可重復(fù)的測試，測試工程師必須填補(bǔ)昂貴的測量儀器的面板上的高質(zhì)量連接器和DIB/DUT的接口之間的空白。DUT的電氣接口（探針卡或封裝適配接口 卡）通常集成在DIB內(nèi)部，卻很少與相同類型的高質(zhì)量連接器匹配。源端（到DUT)和接收端/測量設(shè)備（來自DUT)之間大量的線纜/連接器以及DIB會引入大量的隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差。

為了補(bǔ)償這些誤差，簡化的RF ATE測試配置（圖4）允許DUT端口的自動校準(zhǔn)和測量，無需手動校準(zhǔn)技術(shù)為每個獨(dú)立的DIB/DUT創(chuàng)建參考平面。圖4簡單地通過直接測量測試配置誤差并在最終的DUT測量值中糾正這些誤差（原始測試測量值—校準(zhǔn)誤差測量值=最終DUT測量值）使校準(zhǔn)/測試測量的流程實(shí)現(xiàn)自動化。具體實(shí)現(xiàn)方法是，首先，內(nèi)部交叉點(diǎn)開關(guān)(CPS)會自動切換到“校準(zhǔn)誤差測量”模式，從而允許ADC測量RF吞吐量，這包含以下的誤差：

• 直接RF天線/源噪聲和失真

• DUT的輸入回波損耗/衰減器誤差

• 電源誤差

• 接地誤差

• 輔助源/驅(qū)動問題（如上述的控制端口的例子）

• 連接器和線纜誤差/變化

這個測量結(jié)果被存儲為校準(zhǔn)誤差測量值。隨后CPS自動切換至“原始測試測量”模式，ADC對DUT（連接所需的外圍器件）進(jìn)行同樣的測量，數(shù)據(jù)被存儲為原始測試測量值。這兩個測量值經(jīng)過軟件的處理，得出自動校準(zhǔn)/修正的最終測試測量結(jié)果。內(nèi)部的CPS允許RF ATE工程師通過一系列的測試自動重配置DIB/DUT，無需手動干預(yù)和重校準(zhǔn)。類似地，如果DIB/DUT包含多個器件，可通過四通道ADC和四輸入交叉點(diǎn)開關(guān)(CPS)實(shí)現(xiàn)多 個端口的測量和自動校準(zhǔn)/修正，隨后將詳細(xì)介紹這一點(diǎn)。

5G NR ATE DUT自動校準(zhǔn)和測試測量

圖5和圖6描述了使用Teledyne e2v的四通道、多輸入端口并集成了非并行片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)（CPS）的ADC的5G NR ATE自動校準(zhǔn)和測試測量系統(tǒng)的自動化解決方案。Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190（12位和10位四通道集成交叉點(diǎn)開 關(guān)的ADC）使得5G NR ATE和現(xiàn)場測試設(shè)備可針對單個通道（圖5, 6和7）和多端口5G NR設(shè)備（如下一節(jié)所示）進(jìn)行自動校準(zhǔn)測量測試。

CPS有四種不同的模式（可通過SPI控制自動使能）：

• 1通道模式IN0輸入：四通道ADC交織成最高采樣率6.4Gsps(4x1.6Gsps)

• 1通道模式IN3輸入：同上

• 2通道模式IN0輸入連接到ADC A和B，IN3連接到ADC C和D，每通道最高采樣率3.2 Gsps(2x1.6Gsps)

• 4通道模式IN0-IN3輸入分別連接到ADC A, B, C, D，每通道最高采樣率1.6Gsps 

另外，EV12AQ605的擴(kuò)展輸入帶寬超過6GHz(EFPBW)，允許C波段(4-8GHz)的信號直接采樣，無需通過下變頻器將信號變換到基帶（直接RF采樣）。 

圖5是自動校準(zhǔn)測量的簡化框圖。CPS設(shè)置成1通道（IN0輸入）模式，ADC(A, B, C, D)測量DIB/DUT的RF吞吐端口，而斷開DIB/DUT的RF輸出端（也由CPS實(shí)現(xiàn)）。這種“校準(zhǔn)誤差測量”采樣DIB/DUT（輸入）的聯(lián)合誤差： 

• 直接RF天線/源噪聲和失真

• 到DUT的輸入回波損耗/衰減器/濾波器誤差

• 電源和接地的誤差

• 來自DUT的輸入/回波損耗/接觸誤差

• DUT所需的DIB包含的輔助源/驅(qū)動/器件問題

• 連接器和線纜誤差/變化等這些ADC的測量結(jié)果被存儲為“校準(zhǔn)誤差測量值”。

圖5 簡化框圖：自動校準(zhǔn)誤差測量

圖6 簡化框圖：自動校準(zhǔn)原始測試測量

圖6是原始測試測量的簡化框圖。在獲得校準(zhǔn)誤差測量值之后，CPS切換到1通道（IN3輸入）模式，ADC(A, B, C, D)測量DIB/DUT的RF輸出端口，而斷開DIB/DUT的RF吞吐端口（由CPS實(shí)現(xiàn)）。這種“原始測試測量”采樣DIB/DUT(輸入)/ DUT(輸出)的聯(lián)合性能和誤差，如： 

• 前面的校準(zhǔn)誤差測量中提到的誤差

• 加上DUT RF輸出性能 

ADC的測量結(jié)果被存儲為“原始測試測量值”。最終的DUT測量值由下式計算出：原始測試測量值—校準(zhǔn)誤差測量值=最終DUT測量值。

 圖7是同時進(jìn)行校準(zhǔn)誤差測量和原始測試測量的簡化框圖。CPS被設(shè)置成2通道模式（IN0輸出連接到A和B, IN3輸出連接到C和D)。2通道模式的ADC(A, B)測量DIB/DUT的RF吞吐端口，而DIB/DUT的RF輸出也被ADC(C, D)測量。利用最大3.2Gsps的采樣率，可以同時測量“校準(zhǔn)誤差測量值”和“原始測試測量 值”。同樣的，最終的DUT測量值可由下式計算出：原始測試測量值—校準(zhǔn)誤差測量值=最終DUT測量值。

圖7 簡化框圖：同時進(jìn)行自動校準(zhǔn)誤差測量和原始測試測量

已安裝的電信設(shè)備的自動校準(zhǔn)5G  NR  ATE系統(tǒng)/現(xiàn)場測試

圖8是同時測量多端口DIB/DUT輸入/輸出以完成自動校準(zhǔn)測量和原始測試測量流程的簡化框圖。CPS被設(shè)置成4通道模式，每個獨(dú)立采樣的ADC通道最大支持1.6Gsps的采樣率。多端口DIB/DUT也可代表已安裝的電信系統(tǒng)的測試/測量點(diǎn)。在4通道模式 下，ADC(A, B, C, D)同時測量DIB/DUT或現(xiàn)場測試系統(tǒng)的RF吞吐端口、端口1、端口2和RF輸出端口。這種配置可同時測量每 個端口，數(shù)據(jù)可被用作“校準(zhǔn)誤差測量值”和/或“原始測試測量值”。最終的測試測量值可通過從原始測試測量值中減去端口校準(zhǔn)誤差得出。

圖8 簡化框圖：同時多端口自動校準(zhǔn)誤差測量和原始測試測量

此外，EV12AQ605包含一個“多ADC鏈?zhǔn)酵焦δ堋保蔀檫@種多端口測試測量帶來更大的設(shè)計靈活性。4個ADC核心的鏈?zhǔn)酵焦δ埽〞r鐘樹和數(shù)字復(fù)位）可自動調(diào)整多個ADC的采樣時序/相位并重對齊，支持實(shí)時測量修正。ADC的鏈?zhǔn)酵焦δ苁惯@一4通道系統(tǒng)可被擴(kuò)展為8, 12, 16或更多通道的系統(tǒng)。 

獨(dú)特的帶CPS的四通道ADC(EV12AQ605和EV10AQ190)為5G NR ATE系統(tǒng)和電信設(shè)備的現(xiàn)場測試加入自動校準(zhǔn)測試和測量的功能

EV12AQ605是一款四通道12位1.6Gsps的ADC。內(nèi)置的交叉點(diǎn)開關(guān)(CPS)可切換多個工作模式，從而交織4個獨(dú)立的核心實(shí)現(xiàn)更高的采樣率。在4通道工作模式下，4個核心可以1.6Gsps的采樣率同相位采樣4個獨(dú)立的輸入。在2通道工作模式下，核心可兩兩交織，實(shí)現(xiàn)每個輸入端3.2Gsps的采樣率。在1通道模式下， 單個輸入連接到交織的4個核心，實(shí)現(xiàn)6.4Gsps的采樣率。這種高度的靈活性使用戶可在3.2GHz的瞬時帶寬內(nèi)實(shí)現(xiàn)RF（和IF）的數(shù)字化。EV12AQ605的擴(kuò)展輸入帶寬超過6GHz(EFPBW)，允許C波段(4-8GHz)的信號直接采樣，無需使用下變頻器將信號轉(zhuǎn)換到基帶。這款A(yù)DC包含多個ADC鏈?zhǔn)酵降墓δ埽捎糜诙嗤ǖ老到y(tǒng)的設(shè)計。它的封裝是使用HiTCE玻璃陶瓷材料的非密封型倒裝封裝，可優(yōu)化RF性能，支持較高的管腳密度。

圖9: EV12AQ605框圖

與本文介紹的主題相關(guān)的一個重要的性能指標(biāo)是通道間隔離度或串?dāng)_。大的串?dāng)_會給ADC增加額外的誤差并影響結(jié)果。可以通過與其他噪聲源類似的自動校準(zhǔn)的流程修正這種誤差。圖10表明，EV12AQ605擁有世界領(lǐng)先的串?dāng)_性能，其引入的額外噪聲影響不大。

圖10: EV12AQ605的串?dāng)_性能

EV10AQ190是類似的早期的10bit的ADC版本，也集成了交叉點(diǎn)開關(guān)。兩者的性能概述請參考下表：

結(jié)論 

隨著5G NR網(wǎng)絡(luò)在世界范圍的普及，高頻器件的自動/校準(zhǔn)高速測量是一個關(guān)鍵的問題。校準(zhǔn)、可重復(fù)性和測量值的相互關(guān)聯(lián)是5G NR ATE和現(xiàn)場測試系統(tǒng)面臨的巨大挑戰(zhàn)。這些問題和總體測試速度以及吞吐量直接關(guān)聯(lián)，影響解決方案的效率和性能。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC使用非并行的片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)，在5G NR ATE和/或現(xiàn)場測試環(huán)境中為器件（單個或多端口）的測試提供自動校準(zhǔn)和測量的解決方案。