NI通過確定最前沿的商業(yè)和技術(shù)趨勢來幫助企業(yè)降低測試成本
新聞發(fā)布 - 2016年3月15日-作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來幫助他們應(yīng)對全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI)近日發(fā)布了《2016自動化測試趨勢展望》。 這份年度測試和測量報告綜合概括了日益互聯(lián)化的自動化測試環(huán)境的主要趨勢,主題涵蓋從毫米波(mmWave)通信到如何有效利用制造測試數(shù)據(jù)來提高商業(yè)績效。
“NI致力于不斷提高自動化測試系統(tǒng)的性能,因此與客戶和供應(yīng)商密切合作,借此深入了解制造與測試部門所面臨的主要挑戰(zhàn),”NI自動化測試市場營銷總監(jiān)Luke Schreier表示,“不論您的挑戰(zhàn)是測試數(shù)百萬個物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備還是管理已使用20年的測試系統(tǒng),我們的目標(biāo)就是激起貴公司的內(nèi)部對話和討論,進(jìn)而幫助您降低測試成本以及保持競爭優(yōu)勢。”
《2016自動化測試趨勢展望》探討了以下幾個主題:
計算: 采集生產(chǎn)測試數(shù)據(jù)
半導(dǎo)體行業(yè)率先采用實時數(shù)據(jù)分析來降低生產(chǎn)測試成本。
軟件: 生命周期管理的關(guān)鍵在于軟件
報廢、操作系統(tǒng)更新?lián)Q代以及兼容性給生命周期較長的項目帶來重重挑戰(zhàn) — 這個長期懸而未決的問題值得我們深入探究。
架構(gòu): 測試管理軟件的崛起
在新編程語言不斷涌現(xiàn)的情況下,采用現(xiàn)成測試執(zhí)行軟件將是有效的解決辦法。
I/O: 從表征到生產(chǎn)的平臺標(biāo)準(zhǔn)化
RFIC公司在整個產(chǎn)品設(shè)計周期中通過IP復(fù)用和硬件標(biāo)準(zhǔn)化來降低成本和縮短產(chǎn)品上市時間。
商業(yè)戰(zhàn)略: 毫米波測試策略
測試經(jīng)理正在采用模塊化解決方案來高效、經(jīng)濟(jì)地驗證高頻組件。
訪問www.ni.com/ato,下載完整的報告。
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