日前,GE檢測控制技術業務部門最新的的專利技術trueDGS ,使超聲斜探頭在使用的DGS方法下提高定量精度。DGS 方法作為一種探測間斷點的定量技術,在歐洲和世界許多國家都制定了標準(如EN 583-2)。新型的斜探頭的DGS精度和圓形晶直探頭一樣,可作為單晶片探頭和相控陣探頭,應用于對精度、兼容性、超聲檢測有一定要求的工業領域。
目前,斜探頭主要使用DGS技術,探測和定量物料缺陷,DGS技術依賴于DGS算法。超聲檢測員在他的缺陷探測儀上能看到缺陷跡象提示,將之與DGS曲線匹配,就能確定與缺陷等價的反射物的大小。但是,DGS方法最初從直探頭發展起來,使用圓形晶直探頭。現在單晶片探頭和超聲相控陣探頭因為折射原因,與直探頭相比,具有不同的超聲探測特性,在DGS評估中會有偏差。隨著新一代的trueDGS 斜探頭的發展,這一點問題已經得到了解決。
正如該新型探頭的發明者之一,GE的Wolf Kleinert所說:“新型探頭的模型是用給定的圓形晶直探頭計算的,在給定入射角和延長線長度的條件下,將探頭中所有聲波的特性轉移到斜探頭中。由此產生的點云形狀決定了trueDGS 斜探頭的傳感器模型。
CAD建模后,就能進行trueDGS 的制造,極大提高了其與相應DGS算法的匹配程度。同樣的道理也適用于相控陣探頭。因此,使用DGS的超聲檢測要精確得多,減少了誤判或者返工,。具有trueDGS技術的斜探頭將延續最盛行的MWB系列探頭的優勢,并且GE所有于此相關的探傷儀都將包含相關軟件。
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